低温测试                                   

    

     低温测试是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。

     标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。 

 

    测试温度范围:最低可达-40℃

 

    参考标准:

    GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》  

    IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》   

    MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》  

    GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.27 低温试验  

    SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.4 低温负荷试验  

    SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.5 低温贮存试验  

    GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》  

    RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法  

    GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》  

    QC/T 413-2002《汽车电气设备基本技术条件》

    YD/T 1591-2009《移动通信手持机充电器及接口技术要求和测试方法》 

 

    低温条件下试件的失效模式:产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。 

 

    低温环境对设备的主要影响有: 

    a. 使材料发硬变脆; 

    b. 润滑剂粘度增加,流动能力降低,润滑作用减小;  

    c. 电子元器件性能发生变化;  

    d. 水冷凝结冰;  

    e. 密封件失效;  

    f. 材料收缩造成机械结构变化。 


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